無損檢測(ce)就是利用(yong)(yong)聲、光、磁(ci)和(he)電(dian)等特性(xing),在(zai)(zai)不損害或不影響被(bei)(bei)檢對象(xiang)使用(yong)(yong)性(xing)能的(de)前(qian)提下,檢測(ce)被(bei)(bei)檢對象(xiang)中是否存(cun)在(zai)(zai)缺陷或不均勻性(xing),給出缺陷的(de)大小(xiao)、位置、性(xing)質和(he)數量等信息,進(jin)而判定被(bei)(bei)檢對象(xiang)所處技術狀態(如合格(ge)與否、剩余壽命等)的(de)所有技術手(shou)段(duan)的(de)總稱。常用(yong)(yong)的(de)無損檢測(ce)方法:超聲檢測(ce)(UT)、磁(ci)粉檢測(ce)(MT)、液體滲透(tou)檢測(ce)(PT)及X射線檢測(ce)(RT)。
超聲波檢測已經單(dan)獨詳細的(de)介(jie)紹(shao)(shao)過了,下(xia)面就簡單(dan)地對(dui)剩下(xia)的(de)三(san)個進行(xing)介(jie)紹(shao)(shao)和(he)對(dui)比。
首先(xian)來了解一下(xia),磁(ci)粉檢測的(de)(de)(de)原(yuan)理。鐵磁(ci)性(xing)材(cai)料和(he)工(gong)(gong)件被(bei)磁(ci)化后,由于不連續性(xing)的(de)(de)(de)存在,工(gong)(gong)件表面和(he)近表面的(de)(de)(de)磁(ci)力線(xian)發生局部畸(ji)變,而(er)產生漏磁(ci)場(chang),吸附施加在工(gong)(gong)件表面的(de)(de)(de)磁(ci)粉,形成在合適光(guang)照(zhao)下(xia)目視可見的(de)(de)(de)磁(ci)痕,從而(er)顯示出不連續性(xing)的(de)(de)(de)位(wei)置、形狀和(he)大小。
磁粉檢測(ce)的適用性和局限性有:
1. 磁粉探傷適用(yong)于(yu)檢測(ce)鐵磁性材(cai)料(liao)表(biao)面和近表(biao)面尺寸很小(xiao)、間(jian)隙極(ji)窄目(mu)視難以看出的不連續性。
2. 磁(ci)粉檢(jian)測可對多種(zhong)情(qing)況(kuang)下的零部件檢(jian)測,還(huan)可多種(zhong)型(xing)件進行檢(jian)測。
3. 可發現裂紋、夾雜、發紋、白(bai)點、折疊、冷隔和(he)疏(shu)松等(deng)缺陷。
4. 磁粉檢測(ce)不能(neng)(neng)檢測(ce)奧(ao)氏體不銹鋼材(cai)料和(he)(he)用(yong)奧(ao)氏體不銹鋼焊(han)條焊(han)接(jie)的焊(han)縫,也不能(neng)(neng)檢測(ce)銅(tong)鋁鎂鈦(tai)等非磁性材(cai)料。對于表(biao)面(mian)淺劃傷、埋藏較深洞和(he)(he)與工(gong)件表(biao)面(mian)夾角小于20°的分層(ceng)和(he)(he)折疊(die)很難(nan)發(fa)現。
液(ye)(ye)(ye)體滲(shen)(shen)透(tou)檢測(ce)的(de)(de)基本原(yuan)理,零件表(biao)面(mian)被施(shi)涂(tu)含有熒光(guang)染料或(huo)著(zhu)色染料后,在一段時(shi)間的(de)(de)毛細管(guan)作(zuo)用下,滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye)可以滲(shen)(shen)透(tou)進表(biao)面(mian)開口缺(que)(que)(que)陷(xian)中(zhong);經去(qu)除零件表(biao)面(mian)多(duo)余的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye)后,再在零件表(biao)面(mian)施(shi)涂(tu)顯像(xiang)劑,同樣,在毛細管(guan)的(de)(de)作(zuo)用下,顯像(xiang)劑將吸引缺(que)(que)(que)陷(xian)中(zhong)保(bao)留的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye),滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye)回滲(shen)(shen)到顯像(xiang)劑中(zhong),在一定的(de)(de)光(guang)源下(紫外線光(guang)或(huo)白(bai)光(guang)),缺(que)(que)(que)陷(xian)處的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye)痕跡(ji)被現實,(黃綠色熒光(guang)或(huo)鮮(xian)艷紅(hong)色),從而探測(ce)出缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)形貌及分布狀態。
滲透檢(jian)測的優點:1. 可檢測(ce)各(ge)種材(cai)料; 2. 具有較高的靈敏度;3. 顯示直觀(guan)、操作(zuo)方便、檢測(ce)費用低(di)。
滲透(tou)檢(jian)測的缺點(dian):1. 不適(shi)于檢查多孔性(xing)疏(shu)松材料制成的工件和表面粗糙的工件;2. 滲透檢測只能檢出(chu)缺陷(xian)的表面分布,難以確定缺陷(xian)的實際深度(du),因(yin)而很難對缺陷(xian)做出(chu)定量評價。檢出(chu)結果受操作者的影響(xiang)也(ye)較大。
最后(hou)一種,射線(xian)檢測,是(shi)(shi)因為 X射線(xian)穿過被照射物體后(hou)會(hui)有(you)損耗,不(bu)同(tong)厚度(du)不(bu)同(tong)物質(zhi)(zhi)對(dui)它(ta)們的吸收率(lv)不(bu)同(tong),而(er)底片放在被照射物體的另一側,會(hui)因為射線(xian)強度(du)不(bu)同(tong)而(er)產生相應的圖形,評片人(ren)員就可以根據影像來判斷物體內部的是(shi)(shi)否有(you)缺(que)陷以及缺(que)陷的性質(zhi)(zhi)。
射線檢測(ce)的(de)適用性(xing)(xing)和(he)局限性(xing)(xing): 1. 對(dui)檢測(ce)體積型的(de)缺(que)陷比較敏感,比較容易對(dui)缺(que)陷進行定(ding)性(xing)(xing)。 2. 射線底片易于保留,有(you)追溯(su)性(xing)(xing)。3. 直觀(guan)顯示缺(que)陷的(de)形狀和(he)類型。 4. 缺(que)點不(bu)能(neng)定(ding)位缺(que)陷的(de)埋藏深(shen)度,同時檢測(ce)厚度有(you)限,底片需專門送洗(xi),并(bing)且對(dui)人身體有(you)一定(ding)害(hai),成本較高。
總而言(yan)之(zhi),超聲波、X射線(xian)探(tan)傷(shang)(shang)適用(yong)于探(tan)傷(shang)(shang)內部(bu)缺陷(xian)(xian);其(qi)中超聲波適用(yong)于5mm以上,且形狀規則的部(bu)件(jian),X射線(xian)不(bu)能定位(wei)缺陷(xian)(xian)的埋(mai)藏深度,有輻射。 磁粉、滲透探(tan)傷(shang)(shang)適用(yong)于探(tan)傷(shang)(shang)部(bu)件(jian)表(biao)(biao)面(mian)缺陷(xian)(xian);其(qi)中磁粉探(tan)傷(shang)(shang)僅(jin)(jin)限于檢(jian)測磁性材(cai)料,滲透探(tan)傷(shang)(shang)僅(jin)(jin)限于檢(jian)測表(biao)(biao)面(mian)開口(kou)缺陷(xian)(xian)。