什么是無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)測？ 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)測是指(zhi)(zhi)在(zai)不(bu)(bu)損(sun)(sun)害或不(bu)(bu)影響被(bei)檢(jian)(jian)(jian)測對象使用(yong)性(xing)(xing)能、不(bu)(bu)傷害被(bei)檢(jian)(jian)(jian)測對象內部組(zu)織的(de)(de)(de)前提下(xia)，利用(yong)材(cai)料內部結構存(cun)在(zai)異常(chang)或缺陷(xian)而引起(qi)的(de)(de)(de)熱(re)、聲、光、電(dian)、磁等(deng)反應變(bian)化(hua)，以物理或化(hua)學方(fang)法為手(shou)段，借助現代化(hua)的(de)(de)(de)技(ji)術和(he)設備器材(cai)，對試(shi)件內部及表面的(de)(de)(de)結構、性(xing)(xing)質(zhi)、狀(zhuang)態(tai)及缺陷(xian)的(de)(de)(de)類(lei)型、性(xing)(xing)質(zhi)、數量、形(xing)狀(zhuang)、位(wei)置、尺寸、分布(bu)及其變(bian)化(hua)進(jin)行檢(jian)(jian)(jian)查和(he)測試(shi)的(de)(de)(de)方(fang)法。 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)測的(de)(de)(de)優點 無損(sun)(sun)檢(jian)(jian)(jian)測具有(you)非(fei)(fei)(fei)破壞(huai)性(xing)(xing)、互容性(xing)(xing)、動態(tai)性(xing)(xing)等(deng)優點而得到(dao)公眾的(de)(de)(de)廣泛(fan)認可(ke)(ke)(ke)，也(ye)在(zai)一定(ding)程度上(shang)反映了一個國家的(de)(de)(de)工(gong)業發展水(shui)平，是工(gong)業發展必不(bu)(bu)可(ke)(ke)(ke)少(shao)的(de)(de)(de)有(you)效工(gong)具。 非(fei)(fei)(fei)破壞(huai)性(xing)(xing) 非(fei)(fei)(fei)破壞(huai)性(xing)(xing)是指(zhi)(zhi)在(zai)獲得檢(jian)(jian)(jian)測結果的(de)(de)(de)同時，除了剔除不(bu)(bu)合格品外，不(bu)(bu)損(sun)(sun)失零(ling)件。因此，檢(jian)(jian)(jian)測規(gui)模不(bu)(bu)受零(ling)件多少(shao)的(de)(de)(de)限(xian)制(zhi)，既可(ke)(ke)(ke)抽樣(yang)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)，又可(ke)(ke)(ke)在(zai)必要時采用(yong)普(pu)檢(jian)(jian)(jian)。

  互容性(xing)即指檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)方法(fa)(fa)的(de)(de)互容性(xing)，即同一(yi)零件可同時(shi)或依次采用不同的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)方法(fa)(fa)，而(er)且又(you)可重復地進行同一(yi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)。當然，這也是(shi)非破壞性(xing)帶來(lai)的(de)(de)好處。 動態(tai)性(xing) 動態(tai)性(xing)是(shi)指無損(sun)探傷方法(fa)(fa)可對(dui)使用中的(de)(de)零件進行檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)，而(er)且能(neng)夠適(shi)時(shi)考察(cha)產品運(yun)行期的(de)(de)累(lei)計影響(xiang)，可查明結構的(de)(de)失效機(ji)理。 無損(sun)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)方法(fa)(fa) 無損(sun)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)方法(fa)(fa)很(hen)多，據美(mei)國國家(jia)宇航局調研分(fen)析可分(fen)為六大類約70余種。但(dan)在(zai)實際應用中，比較常見(jian)的(de)(de)有(you)目(mu)視檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(VT)、射線照相法(fa)(fa)(RT)、超聲(sheng)波檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(UT)、磁粉檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(MT)、滲透檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(PT)、渦(wo)流檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ECT)、聲(sheng)發(fa)射(AE)、超聲(sheng)波衍射時(shi)差法(fa)(fa)(TOFD)等(deng)。