工業無損探(tan)傷的(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)(fa)很多(duo)，目前國(guo)內(nei)外(wai)最常用的(de)(de)探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)(fa)有(you)五(wu)種，即人們常稱的(de)(de)五(wu)大常規(gui)探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)(fa)。本文將首先介紹五(wu)大常規(gui)探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)(fa)及其特(te)點，并結(jie)合(he)汽(qi)車(che)維修中的(de)(de)特(te)定條件和(he)需求，選出更(geng)適合(he)于汽(qi)車(che)維修的(de)(de)探(tan)傷方(fang)法(fa)(fa)(fa)。
五(wu)大常規方法(fa)是指射線(xian)探傷(shang)法(fa)RT、超聲波探傷(shang)法(fa)UT、磁粉(fen)探傷(shang)法(fa)MT、渦流探傷(shang)法(fa)ET和滲透探傷(shang)法(fa)PT。
1. 射線(xian)探傷方法(fa)
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)(tou)(tou)性和(he)(he)直線(xian)(xian)(xian)性來(lai)(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法(fa)。這些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會像可見(jian)光(guang)那樣(yang)(yang)憑(ping)肉眼(yan)就(jiu)能(neng)直接(jie)察(cha)知(zhi)，但它(ta)(ta)可使照相底片感(gan)(gan)光(guang)，也可用(yong)(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)收器(qi)來(lai)(lai)接(jie)收。常用(yong)(yong)(yong)于探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)有x光(guang)和(he)(he)同位素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)，分別稱為(wei)x光(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和(he)(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當(dang)這些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過（照射(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)時(shi)，該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)密(mi)(mi)度越(yue)(yue)(yue)大(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度減弱得(de)(de)(de)越(yue)(yue)(yue)多，即射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)透(tou)(tou)(tou)過該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度就(jiu)越(yue)(yue)(yue)小(xiao)。此(ci)(ci)時(shi)，若(ruo)用(yong)(yong)(yong)照相底片接(jie)收，則底片的(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)(gan)光(guang)量就(jiu)小(xiao)；若(ruo)用(yong)(yong)(yong)儀器(qi)來(lai)(lai)接(jie)收，獲得(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)弱。因此(ci)(ci)，用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)來(lai)(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)(she)待(dai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件時(shi)，若(ruo)其(qi)內部(bu)有氣孔、夾(jia)渣等缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過有缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)比沒(mei)有缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)所透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密(mi)(mi)度要(yao)小(xiao)得(de)(de)(de)多，其(qi)強(qiang)(qiang)度就(jiu)減弱得(de)(de)(de)少些(xie)(xie)，即透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度就(jiu)大(da)些(xie)(xie)，若(ruo)用(yong)(yong)(yong)底片接(jie)收，則感(gan)(gan)光(guang)量就(jiu)大(da)些(xie)(xie)，就(jiu)可以(yi)從底片上(shang)反(fan)映出缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投(tou)影(ying)；若(ruo)用(yong)(yong)(yong)其(qi)它(ta)(ta)接(jie)收器(qi)也同樣(yang)(yang)可以(yi)用(yong)(yong)(yong)儀表(biao)來(lai)(lai)反(fan)映缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投(tou)影(ying)和(he)(he)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)(tou)(tou)過量。由此(ci)(ci)可見(jian)，一般情況(kuang)下，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是不(bu)易(yi)發(fa)現裂(lie)紋的(de)(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對裂(lie)紋是不(bu)敏感(gan)(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)。因此(ci)(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對氣孔、夾(jia)渣、未(wei)焊(han)透(tou)(tou)(tou)等體積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)最(zui)敏感(gan)(gan)。即射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適宜用(yong)(yong)(yong)于體積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適宜面(mian)積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
2. 超聲波(bo)探(tan)傷方法
人們(men)的(de)(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)直(zhi)接(jie)接(jie)收到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)范圍通(tong)常是20Hz到(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于(yu)(yu)20 Hz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為次聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高于(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工(gong)業上常用數兆赫茲超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)來(lai)探傷。超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)率(lv)高，則(ze)(ze)傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性強(qiang)，又易于(yu)(yu)在(zai)固體中傳(chuan)播(bo)，并且遇到(dao)兩種不同介(jie)質(zhi)形成的(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)時(shi)(shi)易于(yu)(yu)反(fan)射(she)，這樣就可(ke)以用它來(lai)探傷。通(tong)常用超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)探頭(tou)與待探工(gong)件(jian)表面(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)觸，探頭(tou)則(ze)(ze)可(ke)有效地(di)向工(gong)件(jian)發(fa)射(she)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并能(neng)接(jie)收（缺(que)陷(xian)）界面(mian)(mian)反(fan)射(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時(shi)(shi)轉換成電信號，再傳(chuan)輸給儀器進行處理。根(gen)據(ju)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)介(jie)質(zhi)中傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)速度(du)（常稱(cheng)(cheng)聲(sheng)速）和傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)間，就可(ke)知(zhi)道缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)位置。當缺(que)陷(xian)越(yue)大(da)，反(fan)射(she)面(mian)(mian)則(ze)(ze)越(yue)大(da)，其反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)量(liang)也就越(yue)大(da)，故可(ke)根(gen)據(ju)反(fan)射(she)能(neng)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)來(lai)查知(zhi)各缺(que)陷(xian)（當量(liang)）的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)。常用的(de)(de)(de)(de)(de)探傷波(bo)(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)等，前二(er)者適(shi)用于(yu)(yu)探測(ce)內部缺(que)陷(xian)，后者適(shi)宜于(yu)(yu)探測(ce)表面(mian)(mian)缺(que)陷(xian)，但對表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)條件(jian)要(yao)求高。
3. 磁粉探(tan)傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是建(jian)立(li)在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理(li)基礎上的(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)方(fang)法(fa)(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)線(xian)穿(chuan)過鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)及(ji)其(qi)(qi)(qi)制(zhi)品(pin)時，在(zai)其(qi)(qi)(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連(lian)續處將(jiang)產生(sheng)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時撒上干(gan)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)或澆上磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就(jiu)會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)，產生(sheng)用(yong)(yong)(yong)肉(rou)眼(yan)能直接觀(guan)察的(de)(de)(de)(de)(de)明顯(xian)(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此(ci)，可(ke)借(jie)(jie)助于該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)(xian)示(shi)(shi)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)及(ji)其(qi)(qi)(qi)制(zhi)品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)缺陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)法(fa)(fa)可(ke)探(tan)(tan)(tan)測露(lu)出表(biao)面(mian)(mian)(mian)，用(yong)(yong)(yong)肉(rou)眼(yan)或借(jie)(jie)助于放大鏡也(ye)不(bu)能直接觀(guan)察到的(de)(de)(de)(de)(de)微小缺陷(xian)，也(ye)可(ke)探(tan)(tan)(tan)測未露(lu)出表(biao)面(mian)(mian)(mian)，而是埋藏在(zai)表(biao)面(mian)(mian)(mian)下幾(ji)毫米的(de)(de)(de)(de)(de)近表(biao)面(mian)(mian)(mian)缺陷(xian)。用(yong)(yong)(yong)這種(zhong)方(fang)法(fa)(fa)雖(sui)然也(ye)能探(tan)(tan)(tan)查氣孔(kong)、夾(jia)雜、未焊透等(deng)體積型缺陷(xian)，但(dan)對(dui)(dui)面(mian)(mian)(mian)積型缺陷(xian)更靈敏(min)，更適(shi)于檢查因(yin)淬(cui)火、軋制(zhi)、鍛造(zao)、鑄造(zao)、焊接、電(dian)鍍、磨削、疲勞等(deng)引起(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)裂紋。 磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)中對(dui)(dui)缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)方(fang)法(fa)(fa)有多(duo)種(zhong)，有用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)，也(ye)有不(bu)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)。用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，因(yin)它顯(xian)(xian)示(shi)(shi)直觀(guan)、操作簡單、人們(men)樂于使用(yong)(yong)(yong)，故它是最(zui)常用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)之一(yi)。不(bu)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)，習慣(guan)上稱(cheng)(cheng)為漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，它常借(jie)(jie)助于感應線(xian)圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏(min)管、霍爾元件等(deng)來反映缺陷(xian)，它比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)更衛生(sheng)，但(dan)不(bu)如(ru)前者直觀(guan)。由于目前磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)主(zhu)要用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)來顯(xian)(xian)示(shi)(shi)缺陷(xian)，因(yin)此(ci)，人們(men)有時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)直接稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，其(qi)(qi)(qi)設(she)備(bei)(bei)稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)設(she)備(bei)(bei)。
4. 渦流探(tan)傷方法
渦(wo)流(liu)探(tan)傷是由交(jiao)流(liu)電(dian)流(liu)產生的(de)交(jiao)變磁場作(zuo)用于待探(tan)傷的(de)導電(dian)材(cai)料(liao)，感應(ying)出(chu)(chu)電(dian)渦(wo)流(liu)。如果材(cai)料(liao)中有缺陷(xian)，它將(jiang)干擾(rao)所產生的(de)電(dian)渦(wo)流(liu)，即形(xing)成干擾(rao)信(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)。用渦(wo)流(liu)探(tan)傷儀檢測出(chu)(chu)其干擾(rao)信(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)，就(jiu)可知道缺陷(xian)的(de)狀況。影響渦(wo)流(liu)的(de)因素(su)很多(duo)，即是說渦(wo)流(liu)中載有豐富的(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)，這些(xie)信(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)與材(cai)料(liao)的(de)很多(duo)因素(su)有關(guan)，如何(he)將(jiang)其中有用的(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)從諸多(duo)的(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)中一(yi)一(yi)分離出(chu)(chu)來，是目前渦(wo)流(liu)研究工作(zuo)者的(de)難題，多(duo)年來已經取(qu)得了一(yi)些(xie)進(jin)展，在一(yi)定條件下(xia)可解決一(yi)些(xie)問(wen)題，但(dan)還(huan)遠不能滿足現場的(de)要求，有待于大力發展。
渦流(liu)探(tan)傷的(de)顯(xian)著特(te)點是對(dui)(dui)導電(dian)材(cai)料就能(neng)起(qi)作用，而不(bu)一定(ding)是鐵磁(ci)材(cai)料，但對(dui)(dui)鐵磁(ci)材(cai)料的(de)效果(guo)較差。其次(ci)，待探(tan)工件表面的(de)光(guang)潔度(du)、平(ping)整度(du)、邊(bian)介等對(dui)(dui)渦流(liu)探(tan)傷都(dou)有(you)較大影(ying)響，因此常將渦流(liu)探(tan)傷用于形狀較規則、表面較光(guang)潔的(de)銅管等非鐵磁(ci)性工件探(tan)傷。
5. 滲透探傷方法(fa)
滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探傷(shang)(shang)是(shi)利用毛細現(xian)象(xiang)來(lai)進行探傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)方法。對于(yu)表(biao)(biao)(biao)面光(guang)(guang)滑而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)零部(bu)件(jian)，用一(yi)種帶(dai)色(se)（常(chang)(chang)為紅色(se)）或帶(dai)有(you)熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)很強(qiang)的(de)(de)(de)(de)液(ye)體，涂覆于(yu)待(dai)探零部(bu)件(jian)的(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面。若(ruo)表(biao)(biao)(biao)面有(you)肉眼不能直接察(cha)知的(de)(de)(de)(de)微(wei)裂紋(wen)，由于(yu)該液(ye)體的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)很強(qiang)，它(ta)將(jiang)沿著(zhu)裂紋(wen)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)其根(gen)部(bu)。然后將(jiang)表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂上對比度較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)顯(xian)示液(ye)（常(chang)(chang)為白色(se)）。放置片刻(ke)后，由于(yu)裂紋(wen)很窄，毛細現(xian)象(xiang)作用顯(xian)著(zhu)，原(yuan)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)裂紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)將(jiang)上升(sheng)(sheng)到(dao)表(biao)(biao)(biao)面并擴散(san)，在(zai)白色(se)的(de)(de)(de)(de)襯底上顯(xian)出較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)示出裂紋(wen)露于(yu)表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)形狀，因(yin)此(ci)(ci)，常(chang)(chang)稱為著(zhu)色(se)探傷(shang)(shang)。若(ruo)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)采用的(de)(de)(de)(de)是(shi)帶(dai)熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)液(ye)體，由毛細現(xian)象(xiang)上升(sheng)(sheng)到(dao)表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)液(ye)體，則會在(zai)紫外燈(deng)照(zhao)射下(xia)發出熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)，從而(er)更能顯(xian)示出裂紋(wen)露于(yu)表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)形狀，故常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將(jiang)此(ci)(ci)時的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探傷(shang)(shang)直接稱為熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)探傷(shang)(shang)。此(ci)(ci)探傷(shang)(shang)方法也可用于(yu)金屬和非金屬表(biao)(biao)(biao)面探傷(shang)(shang)。其使用的(de)(de)(de)(de)探傷(shang)(shang)液(ye)劑有(you)較(jiao)大氣(qi)味，常(chang)(chang)有(you)一(yi)定毒性(xing)。
除以上五大常(chang)規方法外(wai)，近年來又有(you)了紅外(wai)、聲發(fa)射(she)等一些新(xin)的探傷方法。
浙江至德鋼業有限公司專業生產不銹鋼管(guan)及管道連接配件廠家，倉庫常備不銹鋼管庫存1000余噸及部分不銹鋼法蘭管件（彎頭|三通|大小頭）現貨，常用規格可當天發貨。另可提供各種不銹鋼管切割、拋光、折彎、鉆孔、焊接、車床加工及管道預制件加工等配套服務。
