超聲波探傷儀、超聲波探頭、試塊及耦合劑等組成超聲波檢測系統，它們是超聲波探傷的重要設備。超聲波探傷儀是超聲波探傷的主要設備，它能夠快速識別出工件內部多種缺陷（裂紋、氣孔、夾雜等），并且不會對工件造成任何損傷，廣泛適用于實驗室與工程現場。

一、 按照超聲(sheng)波(bo)的連續性(xing)分類

 1. 脈(mo)沖(chong)波超聲探傷儀(yi)

  這種(zhong)儀器主要是(shi)(shi)通過(guo)周期性的發射不連續(xu)的脈沖波來激勵換(huan)能器產生超聲(sheng)波，根據超聲(sheng)波的傳播速度或者回波的幅(fu)值等特性判斷工(gong)件中是(shi)(shi)否有缺陷(xian)，這是(shi)(shi)目前最常用的探傷儀模式。

 2. 連續波超聲探傷儀

  這種儀器(qi)(qi)探(tan)頭向(xiang)工(gong)件(jian)發射連(lian)續且頻率不(bu)變的超聲(sheng)波，主要是通(tong)(tong)過觀(guan)察透過工(gong)件(jian)的超聲(sheng)波強度的變化來判斷工(gong)件(jian)中是否有缺陷。這種儀器(qi)(qi)通(tong)(tong)常情(qing)況(kuang)下靈敏度低(di)，而(er)且難以確定缺陷位置，大多被(bei)脈(mo)沖探(tan)傷(shang)儀器(qi)(qi)取代，不(bu)過仍舊應用在超聲(sheng)波顯像及超聲(sheng)波共(gong)振測(ce)厚等(deng)方面。

3. 調頻波超聲(sheng)探傷儀(yi)

  這(zhe)種儀(yi)(yi)器發射的超聲波(bo)(bo)是周期性(xing)連續且頻率周期性(xing)變化的超聲波(bo)(bo)，主要(yao)是觀察發射波(bo)(bo)與回波(bo)(bo)的變化，判(pan)斷工件中有(you)無缺陷。但其局限性(xing)是適用于檢測(ce)與探測(ce)面平行的缺陷，所(suo)以這(zhe)種儀(yi)(yi)器也(ye)大多被(bei)脈沖(chong)探傷儀(yi)(yi)器取代。

二、按缺陷顯示方(fang)式分類

1. A型顯(xian)示

  A型顯示探傷(shang)儀反饋(kui)的(de)是波(bo)(bo)形，它顯示的(de)是超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)回(hui)波(bo)(bo)的(de)位(wei)置(zhi)與幅(fu)(fu)度(du)(du)，回(hui)波(bo)(bo)的(de)位(wei)置(zhi)反映的(de)是超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)傳播(bo)時(shi)間(jian)，幅(fu)(fu)度(du)(du)則是體(ti)現出了缺陷的(de)特性。

2. B型顯(xian)示

  B型顯示(shi)探(tan)傷儀(yi)反(fan)饋的(de)是(shi)圖像(xiang)，探(tan)傷儀(yi)沿熒光屏(ping)橫坐標(biao)方向(xiang)機械(xie)掃(sao)描形成探(tan)頭(tou)的(de)掃(sao)查軌跡(ji)，沿縱坐標(biao)方向(xiang)反(fan)饋處回(hui)波的(de)時間（或距離），這樣就可以直觀地表示(shi)出處于(yu)某一縱面上的(de)缺(que)陷。

3. C型(xing)顯示

  C型顯示(shi)(shi)探(tan)傷(shang)儀反饋的(de)也是圖像(xiang)，探(tan)傷(shang)儀在橫坐標和縱(zong)坐標方(fang)向都是機械掃描來(lai)代表(biao)探(tan)頭(tou)(tou)在工作表(biao)面(mian)的(de)位(wei)置。光點(dian)輝度表(biao)示(shi)(shi)探(tan)頭(tou)(tou)接收信(xin)號(hao)幅度，所以當(dang)探(tan)頭(tou)(tou)在工件表(biao)面(mian)移(yi)動反饋在熒(ying)光屏上(shang)便(bian)顯示(shi)(shi)出工件內部(bu)缺陷的(de)平面(mian)圖像(xiang)，但不能顯示(shi)(shi)缺陷深度。

  A型(xing)、B型(xing)、C型(xing)三種顯示分別如圖3.17所示。

三(san)、按超聲波的(de)通道分類(lei)

1. 單通道(dao)探傷儀

   這種儀器在目前的超聲波檢(jian)測中應用(yong)比較廣泛，一(yi)般是使用(yong)一(yi)個(ge)探頭(tou)或一(yi)對探頭(tou)。

2. 多通道(dao)探傷儀

   在(zai)某些(xie)場合中，單一的(de)(de)探頭接收(shou)的(de)(de)回波信息較少，所以采用(yong)多(duo)個或多(duo)對探頭同(tong)時工(gong)作，通常應用(yong)于自(zi)動化檢(jian)測。

四、按工作制(zhi)式分類

1. 模擬式超(chao)聲探傷儀(yi)

  a. A型(xing)脈沖反射式超聲波探傷儀

    A型脈沖反射式超聲波探(tan)傷設備(bei)主要包含(han)同步電(dian)(dian)路(lu)(lu)、發射電(dian)(dian)路(lu)(lu)、接收放大電(dian)(dian)路(lu)(lu)、掃描(miao)電(dian)(dian)路(lu)(lu)、顯示電(dian)(dian)路(lu)(lu)和電(dian)(dian)源電(dian)(dian)路(lu)(lu)等(deng)主要電(dian)(dian)路(lu)(lu)，其次有延時電(dian)(dian)路(lu)(lu)、報警電(dian)(dian)路(lu)(lu)、深度補償電(dian)(dian)路(lu)(lu)、標記電(dian)(dian)路(lu)(lu)、跟(gen)蹤及記錄等(deng)附加裝置組成(cheng)。電(dian)(dian)路(lu)(lu)框圖如(ru)圖3.18所示。

  工作原理：電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)接通后(hou)，同步(bu)電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)周期性同步(bu)脈(mo)沖信(xin)號(hao)(hao)，一方面(mian)(mian)同步(bu)脈(mo)沖觸(chu)發掃描(miao)發生(sheng)(sheng)器產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)線(xian)性的(de)(de)鋸齒波，經掃描(miao)放(fang)大(da)加到(dao)示(shi)波管(guan)水平(ping)（x軸）偏轉(zhuan)板(ban)上(shang)，產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)一個(ge)從左到(dao)右的(de)(de)水平(ping)掃描(miao)線(xian)，即時(shi)基線(xian)。另一方面(mian)(mian)觸(chu)發發射電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)高頻脈(mo)沖并作用于探頭(tou)(tou)，通過探頭(tou)(tou)的(de)(de)逆壓電(dian)(dian)效應(ying)將信(xin)號(hao)(hao)轉(zhuan)換為聲信(xin)號(hao)(hao)，發射超聲波。超聲波在(zai)傳播(bo)過程中遇到(dao)異(yi)質(zhi)界(jie)面(mian)(mian)（缺陷或底(di)面(mian)(mian)）產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)反(fan)射，反(fan)射的(de)(de)回(hui)波由探頭(tou)(tou)接收。通過探頭(tou)(tou)的(de)(de)正壓電(dian)(dian)效應(ying)將聲信(xin)號(hao)(hao)轉(zhuan)換為電(dian)(dian)信(xin)號(hao)(hao)送至放(fang)大(da)電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)被放(fang)大(da)、檢波，信(xin)號(hao)(hao)電(dian)(dian)壓加到(dao)示(shi)波管(guan)的(de)(de)垂直（y軸）偏轉(zhuan)板(ban)上(shang)，使電(dian)(dian)子束發生(sheng)(sheng)垂直偏轉(zhuan)，在(zai)水平(ping)掃描(miao)的(de)(de)相應(ying)位(wei)置上(shang)產(chan)(chan)生(sheng)(sheng)缺陷的(de)(de)回(hui)波和(he)底(di)面(mian)(mian)波。

 b. B型顯示(shi)超聲波探(tan)傷儀

  工作原理：同(tong)步電(dian)(dian)路(lu)(lu)產生脈沖信(xin)號(hao)觸(chu)發(fa)探(tan)頭(tou)發(fa)射超聲波(bo)信(xin)號(hao)，同(tong)時(shi)也觸(chu)發(fa)y掃(sao)描(miao)電(dian)(dian)路(lu)(lu)，并(bing)將鋸齒波(bo)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)施(shi)加在示波(bo)管y軸偏轉板上(shang)(shang)(shang)。施(shi)加在x軸偏轉板上(shang)(shang)(shang)的是隨(sui)探(tan)頭(tou)位置變(bian)(bian)化(hua)而變(bian)(bian)化(hua)的直(zhi)流電(dian)(dian)壓(ya)(ya)，當探(tan)頭(tou)在工件上(shang)(shang)(shang)沿直(zhi)線(xian)移(yi)動時(shi)，在顯(xian)示器上(shang)(shang)(shang)顯(xian)示出(chu)沿探(tan)頭(tou)掃(sao)描(miao)線(xian)所處的截面(mian)(mian)(mian)上(shang)(shang)(shang)的前后表面(mian)(mian)(mian)，內部反射界面(mian)(mian)(mian)的位置、取向(xiang)及深度(du)。電(dian)(dian)路(lu)(lu)框圖(tu)如圖(tu)3.19所示。

 c. C型顯示超(chao)聲(sheng)探傷(shang)儀

  C型顯(xian)示(shi)(shi)超聲波探(tan)傷儀一(yi)般由同(tong)(tong)步、發射、放大、與門、閘門、平面(mian)顯(xian)示(shi)(shi)器與機械同(tong)(tong)步組成，如圖3.20所示(shi)(shi)。

  工(gong)(gong)作原理：同步電(dian)路(lu)產(chan)(chan)生同步脈沖信(xin)(xin)號激勵換(huan)能器產(chan)(chan)生超聲波(bo)信(xin)(xin)號，傳(chuan)遞到工(gong)(gong)件(jian)中(zhong)，并同時(shi)觸發閘門電(dian)路(lu)以獲得閘門信(xin)(xin)號。示(shi)波(bo)管的(de)橫縱坐(zuo)標(biao)分(fen)(fen)別表示(shi)工(gong)(gong)件(jian)探(tan)測(ce)面上(shang)的(de)相應(ying)的(de)橫坐(zuo)標(biao)和縱坐(zuo)標(biao)。電(dian)位器x和y的(de)直流電(dian)壓(ya)分(fen)(fen)別作用于控制(zhi)示(shi)波(bo)管的(de)水平(ping)和垂(chui)直偏轉板。機(ji)械同步將探(tan)頭與(yu)兩個電(dian)位器實現聯動(dong)。探(tan)頭移動(dong)時(shi)，把移動(dong)的(de)X分(fen)(fen)量(liang)與(yu)Y分(fen)(fen)量(liang)分(fen)(fen)別施加在水平(ping)和垂(chui)直偏轉板，偏轉板電(dian)壓(ya)發生相應(ying)變化，使屏幕上(shang)的(de)坐(zuo)標(biao)與(yu)工(gong)(gong)件(jian)探(tan)測(ce)面上(shang)的(de)坐(zuo)標(biao)相對應(ying)。

d. 模擬式超聲波探傷儀的構成及(ji)其功能

 模擬(ni)式超聲波探傷儀的電路(lu)框(kuang)圖(tu)如(ru)圖(tu)3.21所(suo)示。

（1)組成部(bu)分(fen)及(ji)其作(zuo)用

    ①. 超聲波探傷儀的(de)協調中心是同步電路，它決定著激勵信號的(de)重復頻率。

    ②. 發射電路主要作(zuo)用是產生高(gao)壓脈沖作(zuo)用于(yu)超聲波(bo)換能器產生超聲波(bo)。

    ③. 掃描(miao)(miao)電(dian)路(lu)使顯示屏上出現條明(ming)亮的時基線，也就(jiu)是(shi)時間軸和(he)水(shui)平掃描(miao)(miao)線。它控制著掃描(miao)(miao)速度，決定著儀器的檢(jian)測(ce)范(fan)圍。

   ④. 接收放(fang)大(da)電(dian)路(lu)將(jiang)探頭產生(sheng)的微(wei)弱(ruo)回波信號(hao)電(dian)壓放(fang)大(da)到顯示屏的縱(zong)坐標方向，以顯示工作電(dian)壓。它控制(zhi)著儀器的增益和(he)衰減。

（2)各主要開關和旋鈕(niu)的作用及其(qi)調整(zheng)方法。

  在模(mo)擬式(shi)超聲波探(tan)傷儀面板上，合理選(xuan)用開(kai)關(guan)和(he)按鈕(niu)可(ke)以實現不同的(de)功能(neng)。各主要開(kai)關(guan)和(he)旋鈕(niu)的(de)作用及其調整方法如下：

   ①. 工作(zuo)方式選擇(ze)旋鈕(niu)

   發(fa)射探(tan)(tan)(tan)頭和(he)(he)接(jie)收(shou)探(tan)(tan)(tan)頭分別連接(jie)到(dao)發(fa)射插(cha)(cha)座和(he)(he)接(jie)收(shou)插(cha)(cha)座，工(gong)作(zuo)(zuo)方(fang)式(shi)選擇旋鈕的作(zuo)(zuo)用是選擇檢測方(fang)式(shi)，即“雙探(tan)(tan)(tan)”或“單探(tan)(tan)(tan)”方(fang)式(shi)。當(dang)選擇“雙探(tan)(tan)(tan)”時，兩個探(tan)(tan)(tan)頭的工(gong)作(zuo)(zuo)模式(shi)為(wei)一發(fa)一收(shou)。當(dang)選擇“單探(tan)(tan)(tan)”時，發(fa)射插(cha)(cha)座和(he)(he)接(jie)收(shou)插(cha)(cha)座內(nei)部連通(tong)，單個探(tan)(tan)(tan)頭自(zi)(zi)發(fa)自(zi)(zi)收(shou)。

  ②. 發射強度旋(xuan)鈕

   此按鈕主(zhu)要改(gai)變(bian)激勵脈沖的強度，增加或者減小發射功率，增大發射強度，有助于提(ti)高儀器靈敏(min)度。但(dan)脈沖變(bian)寬，分辨力差(cha)。因此，應根(gen)據實際情況選擇合適的發射強度。

 ③. 增(zeng)益旋鈕

   接(jie)(jie)收信(xin)號幅(fu)值可(ke)能會(hui)非常低，這樣不(bu)利于信(xin)號分析，通過(guo)調節增益旋鈕，可(ke)以(yi)改變接(jie)(jie)收放大器的放大倍(bei)數。使用(yong)時，將(jiang)回波高度精確(que)地調節到某(mou)一指定(ding)高度，將(jiang)儀器靈敏度確(que)定(ding)以(yi)后(hou)，在(zai)檢測過(guo)程中一般(ban)不(bu)再調整增益旋鈕。

  ④. 衰(shuai)減器

   衰(shuai)減(jian)器(qi)可以調節檢測(ce)靈(ling)敏度和測(ce)量回(hui)波(bo)(bo)(bo)振幅(fu)(fu)。用來(lai)調節靈(ling)敏度時，衰(shuai)減(jian)讀數(shu)大(da)，回(hui)波(bo)(bo)(bo)幅(fu)(fu)度低；反之，靈(ling)敏度高。用來(lai)調節回(hui)波(bo)(bo)(bo)振幅(fu)(fu)時，衰(shuai)減(jian)讀數(shu)大(da)，回(hui)波(bo)(bo)(bo)幅(fu)(fu)度高；反之，回(hui)波(bo)(bo)(bo)幅(fu)(fu)度低。

  ⑤. 深度范圍(wei)旋鈕(niu)

   此按(an)鈕主要是調節(jie)顯示(shi)在(zai)(zai)屏幕(mu)上的檢測范圍。可(ke)以將顯示(shi)在(zai)(zai)屏幕(mu)上的回波信號間距壓縮或(huo)者擴展。

  ⑥. 深度細調旋鈕

   深(shen)(shen)度(du)(du)細(xi)調(diao)旋(xuan)鈕的(de)(de)作用(yong)是精確調(diao)整檢(jian)測(ce)范圍。調(diao)節深(shen)(shen)度(du)(du)細(xi)調(diao)旋(xuan)鈕，可連續(xu)改變(bian)掃描(miao)線的(de)(de)掃描(miao)速度(du)(du)，從(cong)而使顯示屏上的(de)(de)回波(bo)間(jian)(jian)距在一定范圍內連續(xu)變(bian)化。調(diao)整檢(jian)測(ce)范圍時，應先將(jiang)深(shen)(shen)度(du)(du)粗調(diao)旋(xuan)鈕置于合適的(de)(de)檔級，然后調(diao)節深(shen)(shen)度(du)(du)細(xi)調(diao)旋(xuan)鈕，使反射波(bo)的(de)(de)間(jian)(jian)距與反射體(ti)的(de)(de)距離成一定比例。

  ⑦. 延遲旋(xuan)鈕

  此按鈕可以(yi)使顯示在屏幕(mu)上的回波(bo)信號大幅度(du)(du)(du)(du)地(di)左右移動而不改(gai)變(bian)回波(bo)之間的距離。調(diao)節(jie)檢測范圍時(shi)，先用深度(du)(du)(du)(du)粗(cu)調(diao)旋鈕和深度(du)(du)(du)(du)細調(diao)旋鈕調(diao)節(jie)好回波(bo)間距，再用延遲旋鈕將反射波(bo)調(diao)至正確位置，通過延遲旋鈕進行零位校正，使聲程原(yuan)點與水(shui)平刻度(du)(du)(du)(du)的零點重(zhong)合。

 ⑧. 聚焦旋鈕(niu)

  聚(ju)焦旋鈕(niu)可以調(diao)節電子束(shu)的粗細程度，可以根據實際(ji)情況調(diao)節，使顯(xian)示屏波形清晰。

 ⑨. 水平旋鈕

  水(shui)平旋(xuan)(xuan)鈕(niu)也稱為零位調節旋(xuan)(xuan)鈕(niu)。通過調節水(shui)平旋(xuan)(xuan)鈕(niu)使掃描線連同(tong)回(hui)波一起(qi)左(zuo)右移動一段距離，回(hui)波之間的(de)距離不發生改變。

 ⑩. 重復(fu)頻率旋鈕

  此按鈕調節的(de)是(shi)激(ji)勵脈(mo)沖(chong)的(de)重復(fu)頻率，即激(ji)勵脈(mo)沖(chong)的(de)發射(she)間隔。當屏(ping)幕上(shang)顯示的(de)圖(tu)案(an)比較暗淡時，可以提高重復(fu)頻率，就(jiu)會使圖(tu)案(an)變得更加清晰。

 ?. 垂直旋鈕

  通過調節垂(chui)直旋鈕使掃描線連同回波(bo)一(yi)起(qi)上下(xia)移(yi)動一(yi)段距離(li)，回波(bo)之間的(de)距離(li)不(bu)發生改變。

 ?. 深度補償開關

  此(ci)旋鈕(niu)的(de)作用是調節(jie)回波(bo)增益，減(jian)小相同形(xing)狀但不同深度(du)的(de)缺陷的(de)回波(bo)高度(du)差。

2. 數字式超(chao)聲探傷儀

 數字式(shi)超(chao)聲探傷儀(yi)整機由微處理(li)器系統同(tong)步(bu)和控(kong)制，由發射、接收、數控(kong)放大(da)器單元，數據調整實時采集、存儲和分析(xi)、處理(li)單元以及回波顯示和打印輸出等組成。

a. 數字(zi)式(shi)超聲探傷(shang)儀與模擬式(shi)超聲探傷(shang)儀的(de)異同點對比

  ①. 基本組成(cheng)

 如圖3.22所(suo)示(shi)為數(shu)(shu)(shu)字(zi)(zi)式(shi)超(chao)聲(sheng)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)的(de)(de)(de)電路框圖，其發射電路與模(mo)擬(ni)式(shi)超(chao)聲(sheng)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)相同(tong)(tong)，接收放(fang)大(da)電路的(de)(de)(de)衰減器(qi)與高(gao)頻(pin)放(fang)大(da)器(qi)等(deng)也(ye)與模(mo)擬(ni)式(shi)超(chao)聲(sheng)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)相同(tong)(tong)，信號放(fang)大(da)后由A/D轉換器(qi)轉換成數(shu)(shu)(shu)字(zi)(zi)信號，輸送到微處(chu)(chu)理器(qi)進行處(chu)(chu)理，顯(xian)示(shi)器(qi)進行處(chu)(chu)理，模(mo)擬(ni)式(shi)超(chao)聲(sheng)探(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)上(shang)的(de)(de)(de)檢波、濾波、抑制(zhi)等(deng)功能可以通過對數(shu)(shu)(shu)字(zi)(zi)信號的(de)(de)(de)處(chu)(chu)理來完成。數(shu)(shu)(shu)字(zi)(zi)式(shi)儀(yi)(yi)器(qi)的(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)是由微處(chu)(chu)理器(qi)控制(zhi)實現逐步逐點(dian)掃描，在顯(xian)示(shi)器(qi)上(shang)顯(xian)示(shi)二維點(dian)陣圖。發射電路與模(mo)數(shu)(shu)(shu)轉換由微處(chu)(chu)理器(qi)協(xie)調(diao)各部分的(de)(de)(de)工(gong)作(zuo)，不再需要同(tong)(tong)步電路。

 ②. 儀器(qi)功能

  數字(zi)式(shi)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)的(de)基本功能(neng)與(yu)模(mo)擬式(shi)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)相同，各部分功能(neng)的(de)控制方(fang)式(shi)不同。模(mo)擬式(shi)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)直接通(tong)過開(kai)關(guan)對(dui)儀(yi)器(qi)的(de)電(dian)路進行調整；數字(zi)式(shi)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)采用人機對(dui)話，將控制數據輸(shu)人微處(chu)理器(qi)，由微處(chu)理器(qi)控制各電(dian)路的(de)工作，有(you)利于(yu)自動檢查。

 ③. 儀器性(xing)能

 兩(liang)類儀器的(de)發射電路、接(jie)收(shou)電路相同(tong)，因此儀器的(de)靈敏(min)度、分(fen)辨(bian)率(lv)基(ji)本相同(tong)。差(cha)別主要是(shi)信號的(de)模(mo)數轉(zhuan)換、處(chu)理及(ji)顯示部分(fen)，這部分(fen)功能(neng)直接(jie)影響(xiang)對缺(que)陷的(de)判斷。

 b. 數字式(shi)超(chao)聲探傷儀(yi)的優缺點

 ①. 優(you)點

 接(jie)收信(xin)號(hao)數(shu)字化(hua)，使(shi)超(chao)聲(sheng)信(xin)號(hao)的存儲、記錄、再現、處理、分析(xi)都很(hen)方便(bian)，可(ke)以(yi)使(shi)超(chao)聲(sheng)信(xin)號(hao)永久記錄，使(shi)檢(jian)(jian)測過程中(zhong)重(zhong)現更(geng)方便(bian)，同時也能從超(chao)聲(sheng)信(xin)號(hao)中(zhong)得到更(geng)多的量化(hua)信(xin)息；顯示(shi)器(qi)不(bu)需(xu)要(yao)傳統(tong)(tong)的示(shi)波器(qi)，使(shi)得儀(yi)器(qi)更(geng)便(bian)于小型化(hua)；軟(ruan)件(jian)(jian)功能可(ke)以(yi)擴展，有(you)利于滿(man)足(zu)不(bu)同使(shi)用場合的要(yao)求；為自動檢(jian)(jian)測系統(tong)(tong)的實現提供條件(jian)(jian)。

②. 缺點

 模(mo)數轉換器的采樣頻率、數據長度、顯示器的分辨(bian)率等(deng)直(zhi)接影響信(xin)號(hao)的質量，如果信(xin)號(hao)失真，會造成漏檢(jian)誤檢(jian)等(deng)，因此在使用(yong)過程中應引起(qi)重視(shi)。