自動化不銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測探(tan)(tan)頭(tou)是磁(ci)場(chang)傳感器的(de)載體和組合，是漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測信號的(de)收集器。隨(sui)著漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測應用(yong)的(de)不斷深入和檢(jian)(jian)測要求的(de)逐步(bu)提高，除了磁(ci)化問(wen)題，另一個核心(xin)就(jiu)是漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測探(tan)(tan)頭(tou)的(de)設計。若探(tan)(tan)頭(tou)性能不好或者(zhe)(zhe)不合適(shi)，則(ze)會出(chu)現(xian)漏(lou)(lou)判或者(zhe)(zhe)誤判，嚴重(zhong)影響(xiang)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測的(de)可靠性。
另一方面，沒有(you)一種探(tan)頭是萬能的(de)(de)。由于自然缺(que)陷的(de)(de)形態千(qian)變(bian)萬化，檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭必然存在局限性(xing)，漏判(pan)或誤判(pan)的(de)(de)情況(kuang)在檢(jian)(jian)測(ce)實踐中時有(you)發生。下(xia)面對檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭的(de)(de)內(nei)部結構(gou)和檢(jian)(jian)測(ce)特性(xing)進行分(fen)析。
一、漏磁(ci)檢測探頭(tou)的結構形式(shi)
目前(qian)，最具代(dai)表性的(de)不(bu)銹鋼管漏磁檢測傳(chuan)感(gan)器有(you)兩種(zhong)：霍爾元件和感(gan)應線圈，尤其是(shi)集成(cheng)霍爾元件和光刻(ke)平面線圈。為了(le)獲得較高(gao)的(de)磁場測量空間分辨力和相對寬廣的(de)掃查范圍，檢測探頭(tou)芯結構有(you)多種(zhong)形式。
1. 點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)形式 在檢(jian)(jian)(jian)測(ce)探頭中(zhong)，對某一(yi)點(dian)(dian)(dian)上或微小區域(yu)的漏磁場測(ce)量，并(bing)且每(mei)個測(ce)點(dian)(dian)(dian)對應于一(yi)個獨立(li)的信號通道，如圖3-6a所示，以下(xia)簡稱為點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探頭。很(hen)明顯，點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探頭中(zhong)每(mei)個點(dian)(dian)(dian)能夠(gou)掃查的檢(jian)(jian)(jian)測(ce)范圍很(hen)小，但(dan)空(kong)間分辨力高，如單個霍爾元(yuan)件的敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)用檢(jian)(jian)(jian)測(ce)線圈也可做(zuo)到(dao)φ1mm內。
2. 線(xian)檢(jian)(jian)測(ce)形式 在檢(jian)(jian)測(ce)探頭中(zhong)，對(dui)一條線(xian)上的漏磁場進行(xing)綜合(he)測(ce)量，如圖3-6b所示，以下(xia)簡稱為線(xian)檢(jian)(jian)探頭。例如，用(yong)感應(ying)線(xian)圈檢(jian)(jian)測(ce)時(shi)，將線(xian)圈做成條狀，則(ze)它感應(ying)的是線(xian)圈掃(sao)查路(lu)徑對(dui)應(ying)空(kong)間(jian)范圍(wei)內的漏磁通(tong)的變化。用(yong)霍(huo)爾(er)元件(jian)檢(jian)(jian)測(ce)時(shi)，采用(yong)線(xian)陣排列，將多個元件(jian)檢(jian)(jian)測(ce)信號用(yong)加(jia)法器疊加(jia)后輸出單(dan)個通(tong)道信號，則(ze)該(gai)信號反(fan)映的是霍(huo)爾(er)元件(jian)線(xian)陣長度內的磁感應(ying)強度的平均值。
在漏磁檢(jian)測中，上述兩種(zhong)形式是最基本的形式，由此(ci)可以組合成多種(zhong)形式的探頭(tou)，如圖(tu)3-6c所示(shi)(shi)的平面(mian)內的面(mian)陣(zhen)列探頭(tou)，以及圖(tu)3-6d所示(shi)(shi)的多個平面(mian)上的立體陣(zhen)列探頭(tou)。
二(er)、漏磁(ci)檢測探頭的(de)檢測特性
1. 缺陷類型
不銹鋼管在進行漏(lou)磁檢測方法(fa)和設備的考核時，常采用機(ji)加工或電火花方式(shi)刻(ke)制標準(zhun)人工缺(que)(que)陷(xian)，自然(ran)缺(que)(que)陷(xian)可表達成它們(men)的組合(he)形式(shi)。為便(bian)于分析和精確(que)評估(gu)，將(jiang)標準(zhun)缺(que)(que)陷(xian)分成下列三類。
（1）點(dian)狀缺陷(xian) 點(dian)狀缺陷(xian)的(de)面積(ji)小，集中(zhong)在(zai)一點(dian)或(huo)小圈內，如標(biao)準缺陷(xian)里(li)的(de)通孔，自然缺陷(xian)里(li)的(de)蝕坑、斑點(dian)、氣孔等，它們(men)產(chan)生的(de)漏磁場是一個集中(zhong)的(de)點(dian)團(tuan)狀場，分布范圍(wei)小。
（2）線狀(zhuang)缺(que)陷 線狀(zhuang)缺(que)陷的寬長比很小，形成一條線，如(ru)標準缺(que)陷里的矩形刻(ke)槽、自然缺(que)陷里的裂紋等，它們(men)產生(sheng)的漏磁(ci)場是沿線條的帶狀(zhuang)場。
（3）體狀缺陷(xian)(xian) 體狀缺陷(xian)(xian)的(de)(de)長、寬、深尺(chi)寸均較大，形成坑或(huo)窩，如標準缺陷(xian)(xian)中的(de)(de)大不通孔、自(zi)然(ran)缺陷(xian)(xian)里的(de)(de)片狀腐蝕(shi)等，它們產生(sheng)的(de)(de)漏(lou)磁場(chang)分(fen)布范圍廣。
2. 不同結構探頭(tou)的(de)檢測特性
不(bu)銹鋼管在(zai)漏磁檢(jian)測中，特(te)別要強調空(kong)間(jian)和方向(xiang)(xiang)的(de)概念。因為，漏磁場是(shi)空(kong)間(jian)場，且具有(you)方向(xiang)(xiang)性；漏磁檢(jian)測信(xin)(xin)號是(shi)時間(jian)域的(de)，且沒有(you)相位信(xin)(xin)息；不(bu)僅檢(jian)測探頭具有(you)敏感方向(xiang)(xiang)，而且檢(jian)測探頭的(de)掃(sao)查路(lu)徑也具有(you)方向(xiang)(xiang)性，不(bu)同方向(xiang)(xiang)均會對檢(jian)測信(xin)(xin)號及其特(te)征產生影響。
另一(yi)(yi)方(fang)面，應(ying)(ying)該(gai)特別注意缺陷漏磁(ci)場(chang)(chang)的(de)(de)表征形(xing)式，在這里(li)，漏磁(ci)場(chang)(chang)強(qiang)(qiang)度(du)(du)和(he)漏磁(ci)場(chang)(chang)梯度(du)(du)存在著(zhu)本(ben)質(zhi)的(de)(de)不(bu)同。霍(huo)爾(er)元件(jian)和(he)感應(ying)(ying)線(xian)圈兩種器(qi)件(jian)的(de)(de)應(ying)(ying)用也有著(zhu)根本(ben)的(de)(de)區別。霍(huo)爾(er)元件(jian)可(ke)以測(ce)量(liang)空間某(mou)點上的(de)(de)磁(ci)場(chang)(chang)強(qiang)(qiang)度(du)(du)，而感應(ying)(ying)線(xian)圈卻無法實(shi)現；感應(ying)(ying)線(xian)圈感應(ying)(ying)的(de)(de)是空間一(yi)(yi)定范圍內的(de)(de)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)變化程度(du)(du)，相反，霍(huo)爾(er)元件(jian)不(bu)可(ke)以測(ce)量(liang)磁(ci)通量(liang)的(de)(de)變化，它(ta)測(ce)量(liang)的(de)(de)是一(yi)(yi)定空間范圍內的(de)(de)磁(ci)感應(ying)(ying)強(qiang)(qiang)度(du)(du)的(de)(de)平均值。
下面將逐一分(fen)析(xi)兩種基本探頭(tou)形式對不(bu)同類型(xing)缺陷的(de)檢測信號特性。
a. 點檢探(tan)頭的信號(hao)特性
點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)測(ce)量(liang)的是空(kong)間某點(dian)(dian)(dian)上的漏磁感應強度(du)(du)或(huo)磁通量(liang)的變(bian)化。點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)對點(dian)(dian)(dian)狀缺陷(xian)的檢(jian)(jian)測(ce)是“針尖對麥芒”，空(kong)間相對位(wei)置(zhi)的微小變(bian)化，均有可(ke)能引(yin)起(qi)檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)度(du)(du)的波動(dong)。點(dian)(dian)(dian)狀缺陷(xian)的漏磁場分(fen)布是尖峰(feng)狀的，當點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)正對峰(feng)頂時，信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)度(du)(du)最大(da)，偏離時信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)度(du)(du)將急劇下降(jiang)。因此，用(yong)點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)去檢(jian)(jian)測(ce)點(dian)(dian)(dian)狀缺陷(xian)時將會產生不穩定的信(xin)號(hao)(hao)，導致(zhi)誤(wu)判(pan)或(huo)漏判(pan)。進行檢(jian)(jian)測(ce)設(she)備標(biao)定時，也難將各通道的靈敏度(du)(du)調整到一致(zhi)。
點(dian)檢(jian)探頭檢(jian)測線(xian)狀缺(que)陷時(shi)(shi)，很(hen)容易掃查到線(xian)狀缺(que)陷產生的“山脈”狀漏磁場的某一(yi)個縱斷面，檢(jian)測信號幅度將正比于(yu)線(xian)狀缺(que)陷的深度。當線(xian)狀缺(que)陷長度大于(yu)一(yi)定(ding)(ding)值時(shi)(shi)，設備標定(ding)(ding)或檢(jian)測信號的一(yi)致性和穩(wen)定(ding)(ding)性均較好。
b. 線檢探(tan)頭的(de)信號特性(xing)
線檢(jian)探頭測(ce)量(liang)的(de)是探頭長(chang)度(du)(du)范圍內(nei)的(de)平均磁(ci)感應強度(du)(du)或磁(ci)通量(liang)的(de)變化。與(yu)點檢(jian)探頭相比(bi)，線檢(jian)探頭的(de)輸出信(xin)號(hao)特性(xing)不(bu)(bu)但與(yu)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)深度(du)(du)有關(guan)，而且與(yu)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)長(chang)度(du)(du)有關(guan)，最終與(yu)缺(que)陷(xian)(xian)缺(que)失的(de)截面積成(cheng)比(bi)例。這類探頭不(bu)(bu)能直接獲得與(yu)缺(que)陷(xian)(xian)深度(du)(du)相關(guan)的(de)信(xin)息，因為長(chang)而淺的(de)缺(que)陷(xian)(xian)與(yu)短而深的(de)缺(que)陷(xian)(xian)在檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)幅度(du)(du)上有可能是一樣的(de)。
線檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)對點狀缺(que)陷的(de)檢(jian)(jian)測(ce)是“滴(di)水不漏”。由于線檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)長(chang)度(du)遠大于點狀缺(que)陷的(de)長(chang)度(du)，在檢(jian)(jian)測(ce)路徑上，缺(que)陷相對于探(tan)頭(tou)(tou)位置變化時，不會影(ying)響(xiang)檢(jian)(jian)測(ce)信號(hao)的(de)幅度(du)，因而一致性(xing)較好。
線(xian)檢(jian)(jian)探頭檢(jian)(jian)測線(xian)狀缺陷時，情況較(jiao)為復(fu)雜，探頭與缺陷的長度(du)比以及位置關(guan)系(xi)均會影響信號幅值。下面舉例分析。
如(ru)圖3-7a所示，用有(you)效長度(du)為25mm的(de)(de)線檢探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)檢測(ce)(ce)25mm長的(de)(de)刻槽。當(dang)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)正對刻槽時，獲得最(zui)大的(de)(de)信號(hao)幅值；當(dang)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)與刻槽的(de)(de)位置(zhi)錯開時，信號(hao)幅值將隨(sui)著探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)與缺陷交叉重疊程度(du)的(de)(de)減小而減弱，此種狀態對檢測(ce)(ce)是不(bu)利的(de)(de)，不(bu)論是設備(bei)標定還是檢測(ce)(ce)應用均(jun)很難(nan)獲得一(yi)致(zhi)(zhi)的(de)(de)檢測(ce)(ce)信號(hao)。圖3-7中左邊(bian)的(de)(de)粗線段為線檢探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)，中間的(de)(de)細線段為不(bu)同位置(zhi)的(de)(de)線狀缺陷，右邊(bian)為不(bu)同探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)檢測(ce)(ce)信號(hao)幅度(du)。為實現(xian)線檢探(tan)(tan)(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)一(yi)致(zhi)(zhi)性檢測(ce)(ce)，有(you)如(ru)下(xia)兩種做法：
①. 減(jian)小線(xian)檢(jian)探(tan)頭的有效(xiao)長度，讓它小于或等于線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷長度的一半，同時將相(xiang)鄰檢(jian)測(ce)探(tan)頭按50％重疊布置，如圖3-7b所示。可以看出，不論缺(que)陷從哪個路(lu)徑通過探(tan)頭陣列，均可在(zai)某一檢(jian)測(ce)單元中(zhong)獲得(de)一個最(zui)大的信(xin)號幅(fu)值，而(er)在(zai)其他檢(jian)測(ce)單元中(zhong)得(de)到較(jiao)小的信(xin)號幅(fu)值。
此時，由于(yu)線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)陷長度(du)(du)遠大于(yu)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)長度(du)(du)，檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)測(ce)量的(de)是漏磁場“山脈(mo)”中的(de)某一段，如果線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)陷深(shen)度(du)(du)一致(zhi)，它可(ke)以直(zhi)接反映出深(shen)度(du)(du)信息。將(jiang)線(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)的(de)長度(du)(du)再不斷縮小(xiao)，線(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)則變成點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)(tou)。此時，在采用(yong)標(biao)準人工(gong)缺(que)陷進行設備標(biao)定時，任何狀(zhuang)態均可(ke)得(de)到一致(zhi)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此(ci)種檢(jian)測(ce)方法測(ce)量(liang)的(de)(de)是線(xian)(xian)狀缺陷(xian)的(de)(de)平均磁感應強度(du)，因而，它反映不了線(xian)(xian)狀缺陷(xian)的(de)(de)深度(du)信息。當缺陷(xian)的(de)(de)長度(du)逐漸(jian)減小(xiao)時(shi)，則轉變(bian)成線(xian)(xian)檢(jian)探頭(tou)對(dui)點狀缺陷(xian)的(de)(de)檢(jian)測(ce)。
3. 面向對(dui)象的(de)檢測探(tan)頭設(she)計(ji)和選用(yong)
在漏(lou)磁檢測中，應(ying)該根據(ju)具體的檢測要求來(lai)設(she)計和選擇合適的探(tan)頭(tou)芯結構，下面給(gei)出幾種探(tan)頭(tou)設(she)計和選用(yong)原(yuan)則。
a. 缺(que)(que)陷(xian)的深度檢(jian)測(ce)應該選擇點(dian)檢(jian)探(tan)頭 點(dian)檢(jian)探(tan)頭反映的是(shi)局(ju)部磁感(gan)應強(qiang)度或其變化。當(dang)(dang)裂紋較(jiao)長時，測(ce)點(dian)相(xiang)當(dang)(dang)于(yu)對無(wu)限長矩形槽的探(tan)測(ce)，因(yin)而，測(ce)點(dian)的信號幅度與缺(que)(que)陷(xian)深度密切相(xiang)關。但是(shi)，當(dang)(dang)線狀缺(que)(que)陷(xian)越來(lai)越短時，測(ce)量的誤差(cha)也(ye)就越來(lai)越大，特別地，對點(dian)狀缺(que)(que)陷(xian)的深度探(tan)測(ce)幾乎不可(ke)能。
在(zai)鋼管漏(lou)磁檢測校樣(yang)過(guo)程中，一(yi)般(ban)均(jun)以通(tong)孔(kong)(kong)(kong)作(zuo)為標定試樣(yang)上的標準缺(que)陷，這樣(yang)，大、小孔(kong)(kong)(kong)的深(shen)(shen)度一(yi)致，孔(kong)(kong)(kong)徑尺寸反映出缺(que)失截面積的線性變化，因而，漏(lou)磁磁通(tong)量(liang)也將(jiang)發生線性變化。對于(yu)不通(tong)孔(kong)(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)(kong)的深(shen)(shen)度和直徑均(jun)為變量(liang)時，僅(jin)通(tong)過(guo)尋(xun)找孔(kong)(kong)(kong)深(shen)(shen)與孔(kong)(kong)(kong)徑的乘積與信號幅度關系去(qu)反演或推算深(shen)(shen)度是不可(ke)能的。這也是僅(jin)采用漏(lou)磁方法進行(xing)檢測的不足。
b. 缺陷的損失截(jie)面積檢測應(ying)該選(xuan)擇線(xian)檢探(tan)頭(tou) 線(xian)檢探(tan)頭(tou)的信號幅度(du)與缺陷損失的截(jie)面積成比例(li)，因而有(you)較好(hao)的測量精度(du)。在有(you)些檢測對象(xiang)中應(ying)用較好(hao)。
c. 缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)長(chang)(chang)度檢(jian)(jian)測應該用點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)陣(zhen)列(lie)或點線(xian)組合式探(tan)頭(tou) 點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)敏感(gan)(gan)于(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)深(shen)(shen)度，當采用點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)陣(zhen)列(lie)時(shi)，缺(que)(que)陷(xian)(xian)長(chang)(chang)度覆蓋的(de)(de)通道數量可(ke)以(yi)(yi)反(fan)映其長(chang)(chang)度信(xin)(xin)息(xi)；另一方面，當線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)大(da)于(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)長(chang)(chang)度時(shi)，感(gan)(gan)應的(de)(de)是(shi)深(shen)(shen)度和(he)長(chang)(chang)度的(de)(de)共同信(xin)(xin)息(xi)，如在(zai)其感(gan)(gan)應范圍內并列(lie)布置(zhi)一個或多個點檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)感(gan)(gan)受深(shen)(shen)度信(xin)(xin)息(xi)，則裂紋的(de)(de)長(chang)(chang)度就可(ke)以(yi)(yi)計算出來(lai)。
從信號處理角(jiao)度(du)來看，點(dian)線組合(he)式(shi)探頭需要的(de)(de)通(tong)道數量較少(shao)，可以同時獲得缺(que)陷的(de)(de)深度(du)、長度(du)、缺(que)失截面積等信息，具有較強的(de)(de)應(ying)用價值。
d. 斜(xie)向(xiang)裂紋采用點檢探頭陣列檢測 在漏(lou)(lou)磁檢測中，當缺(que)陷(xian)走向(xiang)與磁化場(chang)方(fang)向(xiang)不垂直時，漏(lou)(lou)磁場(chang)的(de)(de)強(qiang)度(du)將降低，從而獲得較小的(de)(de)信號(hao)幅(fu)值。因此，斜(xie)向(xiang)缺(que)陷(xian)的(de)(de)檢測與評估，需要(yao)首先檢測出裂紋的(de)(de)走向(xiang)，并且根據走向(xiang)修正漏(lou)(lou)磁場(chang)信號(hao)幅(fu)度(du)，再進行深(shen)度(du)判別。
另一方面，當(dang)探頭掃查路徑垂(chui)直(zhi)于缺陷(xian)(xian)走向(xiang)時，檢(jian)測信號(hao)幅(fu)值最大(da)；隨著兩者夾角不斷(duan)減小(xiao)(xiao)，檢(jian)測信號(hao)幅(fu)值逐(zhu)漸降低，同時信號(hao)特性也將發(fa)生明(ming)顯變化。此時，線檢(jian)探頭的檢(jian)測信號(hao)特性變化很(hen)(hen)大(da)，點檢(jian)探頭的信號(hao)幅(fu)度波(bo)動卻(que)很(hen)(hen)小(xiao)(xiao)。因此，可利(li)用點檢(jian)探頭陣列中各通道獲得最大(da)幅(fu)值的時間差異(yi)來(lai)推算缺陷(xian)(xian)走向(xiang)，為后續的信號(hao)補償(chang)與缺陷(xian)(xian)判(pan)別奠定基礎(chu)，如圖3-8所示。
漏磁設備的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)能(neng)力(li)與探頭芯(xin)結構密切相關(guan)，從目前應用情(qing)況(kuang)來(lai)看，漏磁檢(jian)(jian)測(ce)方法對內(nei)外部腐(fu)蝕坑、內(nei)外部周／軸(zhou)向裂(lie)(lie)紋均(jun)有較好的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)精度(du)，同時，對斜(xie)向裂(lie)(lie)紋具有一定的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)能(neng)力(li)。但是(shi)，漏磁檢(jian)(jian)測(ce)方法對微(wei)裂(lie)(lie)紋，如初期的(de)(de)疲勞裂(lie)(lie)紋、熱處理的(de)(de)應力(li)裂(lie)(lie)紋、軋制時的(de)(de)微(wei)機械裂(lie)(lie)紋和折(zhe)疊不太敏感(gan)。究其(qi)原(yuan)因，微(wei)裂(lie)(lie)紋的(de)(de)開口均(jun)小于0.05mm，漏磁場強度(du)較低(di)，因此(ci)，有必要(yao)輔以渦流、超聲等其(qi)他檢(jian)(jian)測(ce)方法。
我國進口漏磁(ci)檢測(ce)設備(bei)采(cai)用的(de)(de)(de)基本都是基于(yu)線圈的(de)(de)(de)線檢探(tan)頭，這種配置需(xu)要的(de)(de)(de)信號通(tong)道數量相對較少、探(tan)靴的(de)(de)(de)有(you)效覆蓋范(fan)圍大。但是，這種方式(shi)對缺陷的(de)(de)(de)深(shen)度(du)(du)評(ping)定需(xu)要一定的(de)(de)(de)輔助條件，而且對斜向缺陷的(de)(de)(de)檢測(ce)靈敏度(du)(du)較低。
在具體(ti)應用(yong)(yong)過程(cheng)中，首先應分析檢測要(yao)求和對象特點，其次要(yao)認(ren)識探頭芯的(de)(de)形式(shi)和結構。總的(de)(de)來(lai)講，采用(yong)(yong)線檢探頭去檢測線狀(zhuang)缺陷的(de)(de)深度信(xin)(xin)息和采用(yong)(yong)點檢探頭去評定點狀(zhuang)缺陷的(de)(de)長(chang)度信(xin)(xin)息均是不現(xian)實的(de)(de)；高精度的(de)(de)檢測需要(yao)以大量的(de)(de)獨立測量通道和信(xin)(xin)號處理(li)系(xi)統為代(dai)價，因此，應根據檢測目標綜合權(quan)衡。
