由加工方法留(liu)下的(de)(de)表(biao)面痕跡(ji)的(de)(de)深淺(qian)、疏密(mi)、形狀和紋(wen)理(li)都(dou)有差(cha)異，生產運行中產生的(de)(de)表(biao)面痕跡(ji)更是千奇百怪。這(zhe)些(xie)微觀(guan)的(de)(de)和宏觀(guan)的(de)(de)幾何不平整在漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測(ce)中均會引起磁(ci)場泄漏(lou)(lou)，由此帶來的(de)(de)背景漏(lou)(lou)磁(ci)場信(xin)號將(jiang)會影(ying)響(xiang)微小裂(lie)(lie)紋(wen)的(de)(de)漏(lou)(lou)磁(ci)場測(ce)量(liang)，并進一步影(ying)響(xiang)到(dao)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)極限。為此，研(yan)究表(biao)面粗糙(cao)度對裂(lie)(lie)紋(wen)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)影(ying)響(xiang)具(ju)有重要意義。
1. 表面粗糙度試塊
采用(yong)(yong)(yong)Q235碳(tan)素結構鋼制作試(shi)(shi)塊(kuai)，試(shi)(shi)塊(kuai)尺寸長300mm、寬(kuan)100mm、厚14mm。首先，將(jiang)三塊(kuai)試(shi)(shi)塊(kuai)表面(mian)(mian)利用(yong)(yong)(yong)飛刀進(jin)行(xing)銑(xian)削加工，如圖(tu)1-6所(suo)(suo)示(shi)，其表面(mian)(mian)粗糙度值(zhi)從(cong)左(zuo)到(dao)右依次(ci)(ci)為(wei)Ra3.2μm、Ra6.3μm、Ra12.5μm，編號1、2、3。然(ran)后(hou)，利用(yong)(yong)(yong)立(li)銑(xian)加工另外(wai)三塊(kuai)試(shi)(shi)塊(kuai)表面(mian)(mian)，如圖(tu)1-7所(suo)(suo)示(shi)，其表面(mian)(mian)粗糙度值(zhi)從(cong)左(zuo)到(dao)右依次(ci)(ci)為(wei) Ra3.2μm、Ra6.3μm、Ra12.5μm，編號4、5、6。另外(wai)，再采用(yong)(yong)(yong)平磨加工一塊(kuai)試(shi)(shi)塊(kuai)表面(mian)(mian)，此種(zhong)方式獲得(de)的(de)表面(mian)(mian)質量較好，其表面(mian)(mian)粗糙度值(zhi)為(wei)Ra0.2μm，編號7。所(suo)(suo)有(you)試(shi)(shi)塊(kuai)表面(mian)(mian)均刻有(you)一組寬(kuan)度為(wei)20μm，深度不同的(de)人工線狀缺陷，尺寸如圖(tu)1-8所(suo)(suo)示(shi)，從(cong)左(zuo)到(dao)右深度依次(ci)(ci)為(wei)20μm、45μm、70μm，相鄰缺陷的(de)間距為(wei)70mm。
2. 表面粗糙度對漏磁檢測信號(hao)的(de)影響試驗
檢測裝置主(zhu)要由(you)磁(ci)化器(qi)、檢測探(tan)頭、信(xin)號采集系(xi)統、上(shang)(shang)位機等(deng)部分組(zu)成，如(ru)圖(tu)1-9所(suo)示(shi)。磁(ci)化器(qi)由(you)兩(liang)組(zu)線圈組(zu)成，檢測探(tan)頭安(an)(an)裝在(zai)(zai)(zai)(zai)兩(liang)組(zu)線圈中間，以保證檢測探(tan)頭所(suo)在(zai)(zai)(zai)(zai)的(de)位置磁(ci)場分布均(jun)勻。探(tan)頭安(an)(an)裝在(zai)(zai)(zai)(zai)一T形支(zhi)架上(shang)(shang)，T形支(zhi)架固定在(zai)(zai)(zai)(zai)兩(liang)組(zu)線圈上(shang)(shang)方。鋼板(ban)在(zai)(zai)(zai)(zai)支(zhi)撐輪(lun)的(de)驅動下(xia)做勻速(su)運動，在(zai)(zai)(zai)(zai)移動過程中，試塊(kuai)始(shi)終與探(tan)頭保持(chi)緊密貼合(he)。檢測探(tan)頭將磁(ci)場信(xin)息轉(zhuan)換(huan)成電信(xin)號，并由(you)采集卡進行A-D轉(zhuan)換(huan)后進入計算機，由(you)上(shang)(shang)位機軟件進行顯(xian)示(shi)。
a. 表面粗糙度對同一深度裂(lie)紋信噪比的影響
首(shou)先，利用平磨試(shi)塊7進行飽和(he)磁化(hua)下的(de)漏磁檢測(ce)試(shi)驗。試(shi)塊的(de)磁化(hua)方向垂直于(yu)人工(gong)線狀缺(que)陷(xian)，試(shi)塊以恒(heng)定的(de)速(su)度沿(yan)磁化(hua)方向運動，檢測(ce)結果如圖(tu)1-10所(suo)示。
從(cong)圖中(zhong)可(ke)以看出，由于(yu)平磨的表(biao)面(mian)質量較(jiao)好，并未帶來明(ming)顯的噪聲信(xin)號(hao)。另外(wai)，信(xin)號(hao)峰值與缺(que)陷的深(shen)度(du)成正相關規律，當缺(que)陷深(shen)度(du)為20μm左右(you)時，基本無法檢測出缺(que)陷信(xin)號(hao)。
保持試驗條(tiao)件(jian)不變(bian)，獲得1～7號試塊上70μm缺陷的(de)信噪(zao)比，如圖1-11所示，信噪(zao)比公式為 : SNR=20log(S/N) (1-1) ,式中(zhong)，S代(dai)表信號最大(da)(da)幅(fu)值(zhi)；N代(dai)表噪(zao)聲(sheng)最大(da)(da)幅(fu)值(zhi)。
分(fen)析圖(tu)1-11曲線(xian)變化(hua)規律可知，對于深(shen)(shen)度(du)為(wei)70μm的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)，隨著表面(mian)粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)(cao)度(du)值的(de)(de)(de)(de)不(bu)斷增(zeng)大，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)信(xin)噪(zao)(zao)比(bi)逐漸降低。其(qi)中，在(zai)表面(mian)粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)(cao)度(du)值Ra=12.5μmm的(de)(de)(de)(de)3號(hao)(hao)和(he)6號(hao)(hao)試(shi)塊(kuai)(kuai)上(shang)(shang)，缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)信(xin)噪(zao)(zao)比(bi)非常低，已經(jing)不(bu)能清晰分(fen)辨出缺(que)陷(xian)(xian)信(xin)號(hao)(hao)。在(zai)表面(mian)粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)(cao)度(du)值Ra＝3.2μm的(de)(de)(de)(de)1號(hao)(hao)和(he)4號(hao)(hao)試(shi)塊(kuai)(kuai)上(shang)(shang)，缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)信(xin)噪(zao)(zao)比(bi)較高(gao)，而(er)平磨試(shi)塊(kuai)(kuai)上(shang)(shang)同(tong)等深(shen)(shen)度(du)的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)信(xin)噪(zao)(zao)比(bi)最高(gao)。由此(ci)可見，對于微小缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)，表面(mian)粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)(cao)度(du)會直(zhi)接(jie)影響檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)噪(zao)(zao)比(bi)，較大的(de)(de)(de)(de)表面(mian)粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)(cao)度(du)值甚至(zhi)會帶來漏判或誤判。換言之(zhi)，在(zai)表面(mian)粗(cu)(cu)糙(cao)(cao)(cao)度(du)確(que)定的(de)(de)(de)(de)情況下，試(shi)件上(shang)(shang)可檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)深(shen)(shen)度(du)存在(zai)極限。
b. 表面粗糙(cao)度對不同深度裂紋信噪比的影(ying)響(xiang)
保持(chi)試驗條(tiao)件(jian)不(bu)變，探(tan)頭(tou)以(yi)相同(tong)速(su)度掃查所有(you)試塊(kuai)，對不(bu)同(tong)深度的裂紋(wen)進行漏磁檢測。各(ge)試塊(kuai)得到的缺陷檢測信(xin)號如圖1-12所示。
分(fen)析檢測結果(guo)，根(gen)據(ju)式（1-1）得到在(zai)不同表面粗(cu)糙(cao)度下信號信噪比(bi)關(guan)于裂紋(wen)深(shen)度的關(guan)系(xi)曲線，如(ru)圖1-13和(he)圖1-14所示(shi)。
分析圖1-13所示飛刀銑表面(mian)(mian)上不同(tong)(tong)(tong)深(shen)度(du)(du)(du)缺陷(xian)的(de)信(xin)噪比曲線，對(dui)于相同(tong)(tong)(tong)的(de)表面(mian)(mian)粗糙度(du)(du)(du)，隨著人工裂紋深(shen)度(du)(du)(du)的(de)減小，缺陷(xian)信(xin)號的(de)信(xin)噪比降低(di)。與(yu)(yu)此對(dui)應，如圖1-14所示，從立銑試(shi)塊的(de)測試(shi)結果可以看(kan)出，在一定表面(mian)(mian)粗糙度(du)(du)(du)下，裂紋深(shen)度(du)(du)(du)變(bian)化引起(qi)的(de)信(xin)噪比變(bian)化趨勢與(yu)(yu)飛刀銑試(shi)塊基本一致。但是(shi)，由于表面(mian)(mian)加工方(fang)式的(de)差異(yi)，兩組試(shi)塊表面(mian)(mian)峰谷不平(ping)的(de)分布規律并非完全一樣(yang)，從而導致采用不同(tong)(tong)(tong)加工方(fang)式形(xing)成的(de)相同(tong)(tong)(tong)表面(mian)(mian)粗糙度(du)(du)(du)表面(mian)(mian)上的(de)相同(tong)(tong)(tong)深(shen)度(du)(du)(du)缺陷(xian)信(xin)噪比不同(tong)(tong)(tong)。
以上(shang)(shang)試(shi)驗結果表明，在(zai)表面(mian)(mian)粗糙(cao)度確(que)定的(de)情況下，存在(zai)漏(lou)磁檢(jian)測裂紋(wen)極限深(shen)(shen)度。如果裂紋(wen)深(shen)(shen)度小于(yu)極限深(shen)(shen)度，受信噪(zao)比的(de)影響(xiang)，漏(lou)磁檢(jian)測靈敏(min)度將降(jiang)低。表面(mian)(mian)粗糙(cao)度對漏(lou)磁檢(jian)測的(de)影響(xiang)機(ji)理在(zai)于(yu)，表面(mian)(mian)粗糙(cao)度引起表面(mian)(mian)微觀峰谷不平輪廓，在(zai)兩(liang)種不同(tong)磁導率材料的(de)分界面(mian)(mian)上(shang)(shang)，存在(zai)磁折(zhe)射現象，上(shang)(shang)凸和下凹(ao)的(de)輪廓引起了對應表面(mian)(mian)上(shang)(shang)方磁場的(de)不同(tong)分布。
3. 粗糙表面的磁場分布
鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)性材料(liao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)機理通常是基于(yu)下(xia)凹(ao)型(xing)缺陷處(chu)(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場泄漏，而MFL（Magnetic Flux Leakage）完(wan)整的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)機理并非傳統簡單的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)描述(shu)，如(ru)(ru)“磁(ci)(ci)(ci)(ci)場泄漏”“產生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)信號”這(zhe)(zhe)(zhe)樣一個過程。如(ru)(ru)圖(tu)1-15所示，從(cong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)折射的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)角(jiao)度考(kao)慮，漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)中，缺陷附近(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)感應強度變化主要是界面兩側(ce)不(bu)同介(jie)質的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)導率差異引起的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)。不(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是由于(yu)界面處(chu)(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)折射現象，在(zai)(zai)凹(ao)型(xing)缺陷如(ru)(ru)裂紋或腐蝕下(xia)產生“正”的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)MFL信號，而在(zai)(zai)小(xiao)突起物存在(zai)(zai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)地方(fang)，代表(biao)(biao)凸(tu)狀缺陷則產生“負(fu)”的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)MFL信號。基于(yu)這(zhe)(zhe)(zhe)兩種情況，前者導致上凸(tu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號，后(hou)者產生一個凹(ao)陷的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號。由于(yu)這(zhe)(zhe)(zhe)種凹(ao)凸(tu)信號的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)存在(zai)(zai)，當(dang)感應單元沿著凹(ao)凸(tu)不(bu)平(ping)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面進行(xing)掃查(cha)時，捕獲到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號必定影響最終檢(jian)(jian)測(ce)結果。在(zai)(zai)微尺度條件下(xia)，工件表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面粗(cu)糙度模型(xing)中，緊(jin)密相(xiang)連的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)“上凸(tu)”部分(fen)和“下(xia)凹(ao)”部分(fen)會(hui)產生不(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)折射效應，故采用這(zhe)(zhe)(zhe)種完(wan)整的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)機理。
無論采用哪種加工方法，受(shou)刀具(ju)與零(ling)件(jian)間的(de)(de)(de)(de)運動(dong)(dong)、摩擦，機床的(de)(de)(de)(de)振動(dong)(dong)及(ji)零(ling)件(jian)的(de)(de)(de)(de)塑性變(bian)形(xing)等因(yin)素的(de)(de)(de)(de)影響，所獲得的(de)(de)(de)(de)工件(jian)表面都存在微(wei)觀的(de)(de)(de)(de)不平痕(hen)跡，即為表面粗(cu)糙度，通常波距小(xiao)于1mm。工件(jian)在使用過(guo)程中的(de)(de)(de)(de)磨(mo)損(sun)、腐蝕介(jie)質的(de)(de)(de)(de)侵(qin)蝕消耗也會造成表面粗(cu)糙，這種較(jiao)小(xiao)間距的(de)(de)(de)(de)
峰(feng)谷(gu)所組成的微觀幾何輪(lun)廓構成表面紋理(li)粗(cu)糙(cao)度，通(tong)常采用二(er)維表面粗(cu)糙(cao)度評定(ding)(ding)標準(zhun)即能(neng)基(ji)本(ben)滿(man)足機加(jia)工零件要求，常用評定(ding)(ding)參(can)數優先選用輪(lun)廓算術(shu)平均偏差(cha)Ra，能(neng)夠直接反映工件表面峰(feng)谷(gu)不平的狀態。Ra的定(ding)(ding)義(yi)常通(tong)過圖1-16表示。
由Ra的(de)(de)定義可知，其主要(yao)反(fan)映工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)表面(mian)(mian)這種(zhong)峰谷(gu)不平(ping)的(de)(de)狀態(tai)，在(zai)漏(lou)磁檢測(ce)中，這種(zhong)峰谷(gu)不平(ping)的(de)(de)狀態(tai)會引起工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)表面(mian)(mian)磁場(chang)強度(du)(du)的(de)(de)分(fen)布變化。Ra反(fan)映的(de)(de)是垂(chui)直(zhi)(zhi)于工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)表面(mian)(mian)方向(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)高度(du)(du)變化，漏(lou)磁檢測(ce)中的(de)(de)垂(chui)直(zhi)(zhi)于工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)表面(mian)(mian)方向(xiang)(xiang)(xiang)對應著缺陷的(de)(de)深度(du)(du)方向(xiang)(xiang)(xiang)，因此建立表面(mian)(mian)粗(cu)糙度(du)(du)元(yuan)的(de)(de)簡化模型可以分(fen)析工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)粗(cu)糙表面(mian)(mian)的(de)(de)漏(lou)磁場(chang)分(fen)布規律。
通(tong)常采用規(gui)則的(de)(de)(de)(de)三(san)(san)(san)角(jiao)形鋸齒狀表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)來建立表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)模型(xing)，模擬原本不規(gui)則的(de)(de)(de)(de)表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)分(fen)布，便(bian)于定性和定量(liang)分(fen)析(xi)。仿(fang)真(zhen)模型(xing)的(de)(de)(de)(de)特點是三(san)(san)(san)角(jiao)形表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)緊(jin)密(mi)相連，其(qi)間(jian)(jian)(jian)無間(jian)(jian)(jian)隙(xi)。圖(tu)1-17所示為仿(fang)真(zhen)分(fen)析(xi)獲得工件及(ji)周圍(wei)(wei)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)分(fen)布云圖(tu)，表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)模型(xing)中代表(biao)峰谷的(de)(de)(de)(de)凹(ao)凸(tu)三(san)(san)(san)角(jiao)形造成(cheng)了周圍(wei)(wei)空間(jian)(jian)(jian)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)(de)分(fen)布變(bian)化。A區(qu)(qu)域代表(biao)上凸(tu)三(san)(san)(san)角(jiao)形表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)，其(qi)上方C區(qu)(qu)域的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)弱于該(gai)區(qu)(qu)域周圍(wei)(wei)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)；與此同時，緊(jin)鄰下凹(ao)三(san)(san)(san)角(jiao)形表(biao)面(mian)(mian)粗(cu)(cu)(cu)糙(cao)度(du)(du)(du)元(yuan)B的(de)(de)(de)(de)上方也存在區(qu)(qu)域D，該(gai)區(qu)(qu)域的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)大(da)于其(qi)周圍(wei)(wei)空間(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)(du)(du)。
相對于基準面(mian)，提離0.15mm，拾(shi)取(qu)表面(mian)上(shang)方一段長度(du)(du)范圍內磁感應強度(du)(du)水平分(fen)量變化曲線，如(ru)圖1-18所(suo)示(shi)。圖中(zhong)仿真信(xin)號呈現出(chu)上(shang)凸下(xia)凹(ao)的變化規律(lv)，與圖1-17中(zhong)的磁感應強度(du)(du)變化規律(lv)一致。
當(dang)表面(mian)粗(cu)糙度(du)元的高度(du)與(yu)缺(que)陷(xian)深度(du)具有相同(tong)數量(liang)級(ji)時，表面(mian)粗(cu)糙度(du)元引起(qi)的磁場變化(hua)不可忽略。若缺(que)陷(xian)附近表面(mian)粗(cu)糙度(du)元產生(sheng)的漏(lou)磁場強度(du)與(yu)缺(que)陷(xian)產生(sheng)的漏(lou)磁場強度(du)相當(dang)時，將難以分辨出缺(que)陷(xian)信號。
在(zai)上述仿真模型中(zhong)，增加裂(lie)紋(wen)，仿真計算(suan)得到缺陷(xian)所在(zai)區域上方(fang)的(de)(de)漏磁(ci)(ci)場磁(ci)(ci)感應強(qiang)(qiang)度(du)(du)水(shui)平(ping)分(fen)量變(bian)化曲線如圖1-19所示。顯然，裂(lie)紋(wen)周圍的(de)(de)表(biao)面粗糙(cao)度(du)(du)元產(chan)生的(de)(de)磁(ci)(ci)噪聲(sheng)信(xin)(xin)(xin)號(hao)，降低(di)了缺陷(xian)的(de)(de)信(xin)(xin)(xin)噪比。當然，在(zai)實際生產(chan)過程(cheng)中(zhong)，可(ke)根據圖1-19 粗糙(cao)表(biao)面裂(lie)紋(wen)上方(fang)漏磁(ci)(ci)場磁(ci)(ci)感應強(qiang)(qiang)度(du)(du)水(shui)平(ping)分(fen)量分(fen)布表(biao)面粗糙(cao)度(du)(du)引起(qi)的(de)(de)信(xin)(xin)(xin)號(hao)特(te)征，采用合適的(de)(de)濾波(bo)算(suan)法去(qu)除(chu)噪聲(sheng)信(xin)(xin)(xin)號(hao)，以提高信(xin)(xin)(xin)噪比。
